|

Тепловизионные методы оценки влияния температурных режимов на надежность электронной аппаратуры

Авторы: Семенцов С.Г., Гриднев В.Н., Сергеева Н.А. Опубликовано: 19.02.2016
Опубликовано в выпуске: #1(106)/2016  
DOI: 10.18698/0236-3933-2016-1-3-14

 
Раздел: Приборостроение, метрология и информационно-измерительные приборы и системы | Рубрика: Приборы и методы контроля природной среды, веществ, материалов и изделий  
Ключевые слова: тепловизор, инфракрасная термография, скрытые дефекты, параметрические отказы

Рассмотрены методы оценки температурных режимов и их влияние на надежность электронной аппаратуры. Проведен анализ отказов элементов, возникающих вследствие нарушения теплового режима, показаны возможные причины их возникновения. Продемонстрирована применимость методов бесконтактной тепловизионной диагностики для выявления скрытых дефектов, приводящих к нарушениям теплового режима и к параметрическим или внезапным отказам в элементах электронной аппаратуры.

Литература

[1] Неразрушающий контроль. Справочник. В 7 т. Т. 5. Тепловой контроль. Под ред. В.В. Клюева. М.: Машиностроение, 2004. 688 с.

[2] Чеканов А.Н. Расчеты и обеспечение надежности электронной аппаратуры. М.: КНОРУС, 2012. 440 с.

[3] Госсорг Ж. Инфракрасная термография: Основы, техника, применение; пер. с фр. М.: Мир, 1988. 399 с.

[4] Fishbune R.J. Infrared Thermography for Electronic Assembly Design Verification. IBM Power Technology and Qualification. 2000. 7 p.

[5] Бесконтактный тепловой контроль электронно-вычислительных средств / С.П. Панфилова, А.И. Власов, В.Н. Гриднев, А.С. Червинский // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. 2007. № 6. С. 1-9.

[6] Бесконтактный тепловой контроль изделий электронной техники / С.П. Панфилова, А.И. Власов, В.Н. Гриднев, А.С. Червинский // Производство электроники: технологии, оборудование, материалы. 2007. № 3. С. 25-32.