Оптимизация фоновых засветок плоскости анализа оптико-электронных устройств собственным излучением элементов их конструкции - page 1

Николай Андреевич Гребенников родился в
1978
г
.,
окончил в
2002
г
.
МГТУ
им
.
Н
.
Э
.
Баумана
.
Аспирант кафедры
Системы обработки информации и управле
-
ния
”.
Автор
7
научных работ в области проектирования вычислительных систем
.
N.A. Grebennikov (b. 1978) graduated from the Bauman Moscow State Technical
University in 2002. Post-graduate of “Systems of Data Processing and Control” department
of the Bauman Moscow State Technical University. Author of 7 publications in the field of
design of computational systems.
ОПТИКА
УДК
681.7
В
.
М
.
П о н о м а р е в
,
И
.
С
.
П о т а п ц е в
ОПТИМИЗАЦИЯ ФОНОВЫХ ЗАСВЕТОК
ПЛОСКОСТИ АНАЛИЗА ОПТИКО
-
ЭЛЕКТРОННЫХ УСТРОЙСТВ СОБСТВЕННЫМ
ИЗЛУЧЕНИЕМ ЭЛЕМЕНТОВ ИХ КОНСТРУКЦИИ
Предложен алгоритм оптимизации внутриприборной засветки аэ
-
родинамически нагретыми обтекателями инфракрасных пеленга
-
торов
.
Алгоритм реализуется при использовании существующих
программ расчета на ЭВМ температурных полей обтекателей ин
-
фракрасных пеленгаторов
,
установленных на летательных аппара
-
тах
,
и облученности
,
создаваемой ими в плоскости анализа оптиче
-
ской системы пеленгатора
.
Одним из ведущих направлений оптического приборостроения
является разработка оптико
-
электронных устройств
(
ОЭУ
)
объектив
-
ного контроля
,
автоматизирующих процессы измерения
,
обзорно
-
поис
-
ковых
,
кибернетических
,
анализирующих и специальных оптико
-
элект
-
ронных систем
.
Ввиду высоких технических требований
,
предъявляемых при про
-
ектировании и конструировании к таким устройствам и системам
,
не
-
обходимо исследование влияния на их работоспособность внешних и
внутренних фоновых условий и возможности их оптимизации
.
Одним
из внутренних условий
,
определяющих работоспособность ОЭУ
,
явля
-
ется собственное излучение элементов конструкции оптического кана
-
ла
(
внутренней полости ОЭУ
),
создающее в плоскости анализа ОЭУ
внутреннюю фоновую засветку
(
ВФЗ
).
В общем случае ВФЗ определяется излучением этих элементов кон
-
струкции
,
непосредственно попадающим в плоскость анализа
(
прямая
ISSN 0236-3933.
Вестник МГТУ им
.
Н
.
Э
.
Баумана
.
Сер
. "
Приборостроение
". 2004.
1 105
1 2,3,4,5,6,7,8
Powered by FlippingBook