6 / 12
измерений. Для малых разностей температур или коэффициентов из-
лучения спектральный диапазон 3. . . 5 мкм обеспечивает примерно в
2,2 раза более высокую дифференциальную чувствительность, чем
диапазон 8. . . 13 мкм.
Характеристики приемника излучения определяют геометриче-
скую и температурную разрешающие способности. Максимальное
геометрическое разрешение современных тепловизоров составляет
1024
×
1024 точек, хотя более распространенными остаются модели с
разрешением 640
×
480 точек. Такое разрешение часто не позволяет
визуализировать мелкие детали электронных устройств, например,
распределение температуры на выводах микросхемы.
Высокое разрешение по температуре позволяет выделить наиболее
нагретые части корпуса элемента или выявить незначительный нагрев
элементов относительно температуры окружающей среды. В настоя-
щее время существуют тепловизоры с температурной разрешающей
способностью менее 0,02
◦
C, и такое значение можно считать доста-
точным для контроля широкого спектра изделий электронной техники.
Дефекты, выявляемые бесконтактным тепловым методом кон-
троля.
Типы дефектов различных изделий электронной техники, кото-
рые могут быть выявлены с использованием бесконтактного теплового
метода контроля, приведены в таблице.
В качестве иллюстрации применения бесконтактного теплового
метода для диагностики и выявления скрытых дефектов узлов и блоков
радиоэлектронной аппаратуры рассмотрим ряд конкретных примеров.
Термограмма печатной платы ячейки, полученной с нарушениями
технологического процесса сборки, приведшими к недопустимо высо-
кому сопротивлению пайки в разъеме, приведена на рис. 2,
а
.
Термограммы двух одинаковых электронных ячеек работоспособ-
ной и вышедшей из строя представлены на рис. 2,
б
,
в
. Причиной не-
исправности ячейки, приведенной на рис. 2,
в
, является перегрев ми-
кросхем.
Отдельного внимания заслуживает такая область применения те-
плового контроля, как микроэлектроника. Тепловой контроль в микро-
электронике начал активно использоваться лишь в последнее десяти-
летие, что связано с развитием как аппаратного обеспечения (увели-
чение геометрической и тепловой разрешающей способности), так и
методик контроля.
Для изделий микроэлектроники применяют тепловизоры с макси-
мальным доступным разрешением, а также специальными объектива-
ми. В этом случае возможно получение термограмм объектов с раз-
личимыми деталями размером 25 мкм. Термограмма с разрешением
1024
×
1024 точек кристалла микросхемы с объектами размером 7 мкм
показана на рис. 3 [4].
8 ISSN 0236-3933. Вестник МГТУ им. Н.Э. Баумана. Сер. “Приборостроение”. 2016. № 1